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SuperViewW1白光干涉三維表面測量系統廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件...

中圖儀器白光三維光學輪廓測量儀適應于從超光滑到粗糙度各種表面類型的樣品。儀器外殼與內部運動機構采用了分離式設計，有效隔離了聲波振動的傳導；外接氣源和加壓裝置直接...

SuperViewW國產白光干涉測量儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法...

SuperViewW白光干涉3D顯微測量儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。

SuperViewW白光干涉三維表面測量儀以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。

SuperViewW白光干涉微觀形貌測量儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形...

中圖儀器SuperViewW1國產白光干涉儀是以白光干涉技術原理，對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，專用于精密零...

SuperViewW1白光干涉技術3D測量輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光...

SuperViewW白光干涉儀摩擦磨損形貌檢測儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。設備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺...

中圖儀器SuperViewW1國產3D白光干涉儀采用了掃描模塊和內部抗振設計，可實現高測量精度重復性和高粗糙度RMS重復性。它以白光干涉技術為原理、結合精密Z向...

三維白光干涉表面形貌儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸，典型結果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，臺階高度，錐角等...

中圖儀器SuperViewW系列3d白光形貌干涉儀是利用光學干涉原理研制開發的超精細表面輪廓測量儀器。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納...

中圖儀器SuperViewW1國產白光干涉輪廓儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。具有測量精度高、功能全面、操作便捷、測量參數涵蓋面...

SuperViewW系列中圖國產白光干涉儀基于白光干涉原理，結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。

SuperViewW1國產白光干涉儀非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數。以...

chotest白光干涉三維輪廓儀讓輪廓測量價格更為實惠，應用領域廣泛，操作簡便，可自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數。適用于各種產品、...

SuperViewW1白光干涉表面形貌儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉儀的...

SuperViewW1光學白光干涉儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到...

白光干涉儀粗糙度儀以白光干涉技術原理，對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微...

SuperViewW1白光干涉儀光學輪廓儀用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加...