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東莞斯坦德儀器設備有限公司
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更新時間：2024-04-30 20:59:12瀏覽次數(shù)：169次
聯(lián)系我時，請告知來自 食品機械設備網(wǎng)SEM+EDS掃描電子顯微鏡
In Touch Scope JSM-6010PLUS/LA 分析型掃描電子顯微鏡
主要特長
優(yōu)秀電子光學系統(tǒng) In Touch Scope JSM-6010PLUS/LA是日本電子株式會社推出機型，沿襲日本電子的優(yōu)秀電子光學系統(tǒng)，集合了分析掃描電鏡精髓功能，設計精簡自動化程度高。
使用多點觸摸屏，操作舒適 In Touch Scope JSM-6010PLUS/LA通過多點觸控技術(shù)和的操作軟件，操作直觀簡單。只需輕觸屏幕就能操控各種功能，舒適便捷。新開發(fā)的操作界面簡明易懂，即使是SEM新手也能輕松獲得高品質(zhì)的SEM圖像，進行EDS元素分析。
能適應各種環(huán)境的可移動式掃描電鏡 In Touch Scope掃描電鏡，在手邊的PC上就可以進行觀察和分析。只要移動觸摸屏，在遠離裝置的地方也能夠進行操作。(無線模式操作為選配件)。In Touch Scope主機用腳輪即可移動。
標準配置EDS分析功能的分析型掃描電鏡 標準配置EDS分析功能的JSM-6010PLUS/LA，不僅能獲取高分辨率的圖像，在低真空模式下觀察非導電性樣品，還采用了無需液氮制冷的EDS檢測器 (DRY SD)，能夠進行定性分析、定量分析、元素面分布。此外，搭載的大型全對中形樣品臺可以對應各種樣品。
JSM-6010PLUS/LA性能參數(shù)
Main Performance on JSM-6010PLUS/LA
Performance
(一) 主要性能
HV Mode Resolution
高真空模式分辨率 (SE像) 4.0nm @ 20KV WD 8mm
8.0nm @ 3KV WD 6mm
15.0nm @ 1KV WD 6mm
LV Mode Resolution
低真空模式分辨率 (BE像) 5.0nm @ 20KV
Magnification
放大倍數(shù) ×8~×300,000
Detectors
探測器 Secondary Electron Detector
二次電子探測器
★Semiconductor Backscattered Electron Detector(patent)
半導體型背散射電子探測器(技術(shù))
Image Mode
圖像模式 Secondary Electron Image
二次電子圖像
REF Image
REF像
Composition Image (Backscattered Electron Image)
成份像 (背散射電子圖像)
Topography Image (Backscattered Electron Image)
形貌像 (背散射電子圖像)
Shadow Image (Backscattered Electron Image)
立體像 (背散射電子圖像)
Live Image Display
實時圖像顯示 Dual Live Image Display, Split Live Image,
雙實時圖像同時顯示, 分割實時圖像顯示
Accelerating Voltage
加速電壓 0.5KV ~ 20KV
Low Vacuum Degree
低真空度 10 to 100 Pa (Settable with graphic menu)
(軟件控制菜單設定)
Probe Current
探針束流 1pA ~ 0.3uA
Electron Optics
(二) 電子光學系統(tǒng)
Filament
燈絲 Factory pre-centered tungsten hairpin filament
工廠預對中鎢燈絲
★Gun Bias Voltage
電子槍偏壓 Seamless automatic bias
無縫式自給偏壓, 連續(xù)調(diào)整
Gun Alignment
電子槍合軸 Auto alignment
自動合軸
Filament Heating
燈絲加熱 Auto heating
自動加熱
★Condenser Lens
聚光透鏡 Two stage zoom type condenser lens – (patent)
變焦聚光透鏡系統(tǒng) – 技術(shù)
★Objective Lens
物鏡 Super conical type objective lens
超級錐形物鏡
Objective Lens Aperture
物鏡光闌 1 step, Fine position adjustment in X and Y directions
1孔固定，可在X和Y方向微調(diào)
Focus
聚焦 Auto/Manual focus
自動/手動聚焦
Stigmator
像散 Auto/Manual stigmator
自動/手動消像散
★Stigmator Memory
像散存儲器 Standard, Auto/Manual
標準配置，自動/手動補償像散
★Electrical Image Shift
圖像移動 X-Y , ±50um
Specimen Stage
(三) 樣品臺
Type
樣品臺類型 Eucentric type stage
全對中樣品臺
Traverse
行程
X : 80mm;
Y : 40mm;
Z : 5 ~ 48mm;
傾斜 T: -10 ~ +90°
旋轉(zhuǎn) R: 360°連續(xù)endless
Maximum Specimen Size
樣品尺寸 150mm diameter & 48mm height specimen can be inserted
可裝直徑150mm高度為48mm的樣品
Maximum Size of Observation
觀察視野 125mm diameter
直徑125mm
Image Display
(四) 圖形顯示
Pixels
顯示像素 640×480,1280×960,2560×1920,5120×3840
Image Process
圖像處理 Averaging, Linear, Contrast, Gamma, Multi level, Patial enhance, Reverse, Pseudo color, Multi image
平均值, 灰度修正, 反差增強, 偽彩, 二及四分屏, 2及4倍數(shù)碼變焦
File Save
文件存儲格式 BMP, TIFF, JPEG
Operation System
(五) 操作系統(tǒng)
PC
計算機 23英寸觸摸屏式臺式電腦
OS : Windows 7 (英語版)
Metrological function
(六) 測量功能
Distance between parallel lines
平行線間距測量 Horizontal, vertical, diagonal
垂直, 水平, 對角
Distance between 2 points
2點之間距離測量 Distance between any 2 points
任意2點間距離
Circle
圓的測量 Diameter
直徑
Distance between 2 circle centers (not supported by the touch-panel operation)
2個圓中心間距離(觸摸屏操作下不支持此功能)
Angle
角度測量 Angle
角度
Area
面積測量 Area of circles and polygons
圓和多角形
Count
計數(shù) Particle count
顆粒計數(shù)
Vacuum System
(七) 真空系統(tǒng)
Ultimate Pressure
真空度 HV mode 0.1mPa
高真空模式 1×10-4Pa
LV mode 1mPa(at the specimen chamber pressure 27Pa)
低真空模式1×10-3Pa(當樣品室真空為27Pa時)
Evacuation Time
抽真空時間 HV mode 3 min
Pump System
真空泵系統(tǒng) One TMP, One RP
一個分子泵, 一個機械泵
Safety devices
(七) 安全裝置 Power failure, Water failure, Pressure rise, Leak current
斷電,斷水,泄壓,漏電保護
Auto Function
(八) 自動功能 Auto gun control, Auto focus, Auto stigmator, Auto contrast and brightness
自動電子槍控制,自動聚焦,自動消像散,自動反差和亮度
Miscellaneous
(九) 擴展接口 EDS 能譜儀、Chamber Scope紅外相機、Probe Current Detector束流監(jiān)視器
EDS Performance:
(十)能譜儀主要性能
Detector
探測器 Box SDD detector (no liquid nitrogen needed)
電制冷方式Box SDD 探測器 – 不用液氮
Effective area of detector
探頭有效掃描面積 10 mm2
Detector movement
探測器移動 Fixed
固定
Resolution
分辨率 129eV or better (55Fe, 5.9 keV, 1000 cps)
Detectable element range
元素分析范圍 B(5) to U(92)
硼 至 鈾
Window
窗口 Atmospheric pressure-resistant, Ultra-thin film
抗大氣壓的超薄窗
X-ray take-off angle
取出角 35°（WD：10mm）
Cooling
制冷方法 Peltier cooling
Standard Function Built in
標準搭載功能 Qualitative Analysis 定性分析
Quantitative Analysis 定量分析
Active Mapping 活區(qū)面分析
Point Analysis 點分析
Probe Tracking 束流追蹤
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